目前,我国半导体产业已步入规模化发展阶段,据权威统计数据显示,2020年到2025年,中国半导体产业规模从8848亿增长至1.68万亿,预计2026年可突破至1.9万亿。在规模增长的同时,结构也随之优化,向设计和制造等高附加值环节升级,因而半导体研发、生产工艺中的精密测试设备需求也随之呈现大幅增长态势。

随着半导体产业规模的持续扩大,国家对各类半导体器件的电性能参数测试项目,做出了明确要求,推出了相应标准规范。
1.相关标准

2.测试难点

艾诺仪器凭借在测量领域持续的技术创新与研发积淀,面向半导体行业高精度测试需求,全新推出脉冲源表一体机ANPMU系列,该产品集成脉冲发生与精密测量功能,以高集成度设计满足先进制程的测试挑战。采用开关电源与线性功放技术组合,可四象限运行,输出噪声低、精度高、响应快,满足多数场景的测试需求。

1. 宽电压电流源测范围



产品具有高功率瞬时脉冲能力,采样可选择积分AD测量和数字AD测量,分别满足高精度和高速测量需求;具有丰富的波形编辑功能,支持扫描、脉冲、流程图、脚本编辑功能;五寸彩色屏幕,支持触摸、滑动、缩放,可以显示测试曲线。




产品特点

艾诺公司新推出的高精度脉冲源表一体机ANPMU系列,是专为半导体行业量身打造的高精度、高分辨力、多功能源测设备。凭借卓越的技术性能,成为半导体研发、验证与量产环节的核心测试工具。该设备创新采用开关电源与线性功放技术组合,可实现四象限运行,既能够输出稳定能量,也可吸收负载反馈能量,输出噪声极低、测试精度出众且响应速度快捷,高效适配半导体器件对测试稳定性和时效性的严苛要求。ANPMU系列产品以突破性技术方案高效解决行业测试瓶颈,凭借过硬质量,赢得国内外厂商的高度认可,成为行业内的优质之选。
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